具備數位化的高精度 7.5 位數萬用錶 (DMM) 解決方案

Lute 7.5 位數萬用錶 (DMM) 解決方案結合極低雜訊的類比前端與最高達 2 MSPS 的高速數位化擷取能力。專為高精度半導體測試、科學研究以及先進量測系統所設計，能在廣泛的動態範圍內提供優異的訊號保真度。

圖 1：Lute 7.5 位數 DMM 模組架構與數位化處理流程圖

核心功能與系統優勢 (Key Features & Advantages)

詳細量測規格彙整 (Specifications Summary)

圖 2：Lute 7.5 位數萬用錶多元電量量測範圍指標圖

目標應用領域 (Target Applications)

■  高精度電子測試 (High-Precision Electronic Test): 極為適合需要 sub-ppm 等級高解析度與極低雜訊底噪的桌上型測試設備與自動化測試系統 (ATE)。

■  半導體元件測試 (Semiconductor Device Testing): 適用於精密的參數分析、晶圓級測試，以及在動態 V/I 採樣條件下的動態功耗特性分析。

■  精密量測儀器開發 (Precision Measurement Instruments): 可作為次世代客製化實驗室儀器的內建高階類比前端 (AFE) 核心模組。

■  科學研究與實驗應用 (Scientific Research): 為物理研究、材料科學以及先進校正系統提供穩定且可重複的高精度多通道量測數據。